《電子測試》雜志(CN:11-3927/TN)內容豐富、思想健康,1994年創刊,目前以半月刊形式發行,刊物對外積極擴大宣傳,以介紹最新電子技術和測試測量技術為主,秉承一貫的專業性和權威性的辦刊宗旨,致力于提高雜志質量與影響。
設計與研發、虛擬儀器技術、微處理器與編程器件的應用、新品評測特集、測試工具與解決方案、新軟件、新硬件、產品咨詢與行業新聞
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⑤本刊對來稿有修改權,不愿改動者,請事先說明。
影響因子:指該期刊近兩年文獻的平均被引用率,即該期刊前兩年論文在評價當年每篇論文被引用的平均次數
被引半衰期:衡量期刊老化速度快慢的一種指標,指某一期刊論文在某年被引用的全部次數中,較新的一半被引論文刊載的時間跨度
期刊他引率:他引率是指,此期刊被引用次數中,被其他刊引用次數所占的比例
引用半衰期:指某種期刊在某年中所引用的全部參考文獻中較新的一半是在最近多少年時段內刊載的
平均引文率:在給定的時間內,期刊篇均參考文獻量,用以測度期刊的平均引文水平,考察期刊吸收信息的能力以及科學交流程度的高低
雜志被引半衰期、引用半衰期
雜志影響因子、被引次數
雜志發文量、期刊他引率
雜志平均引文率
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